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把控制極G插入另一個(gè)E孔。顯示值將從000開(kāi)始迅速增加，直到顯示溢出符號(hào)后，立即又變成000，然后再次從000變到溢出，這樣周而復(fù)始。采用此法可確定可控硅的觸發(fā)是否可靠。但這樣的測(cè)試由于電流較大，應(yīng)盡量縮短測(cè)試時(shí)間。必要時(shí)也可在可控硅的陽(yáng)極上串一只幾百歐的保護(hù)電阻。
如果使用NPN擋，可控硅陽(yáng)極A應(yīng)接C孔，陰極K接E孔，以保證所加的是正向電壓。檢查觸發(fā)能力時(shí)，控制極不要插入B孔，因B孔的電壓較低，可控硅無(wú)法導(dǎo)通。
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