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涂層測厚儀 LEPTOSKOP 2042

產品描述

根據探頭，帶有清晰排列顯示屏的手持式設備可確定可磁化基板上非磁性層的厚度（根據 DIN EN ISO 2178）和非磁性導電基材上非導電層的厚度使用渦流原理（根據 DIN EN ISO 2360）。

外部探頭有多種型號可供選擇，因此可以解決多樣化的測試問題。

關鍵事實

• 的校準選項

• 多種顯示模式，可適應測量任務*

• 極限值輸入和監控*

• 測量值存儲*，與 Windows 下一樣易于處理的文件管理

• 的統計評估選項

• 可選擇使用 PC 程序iCom或EasyExport將數據傳輸到 Windows 程序

* 取決于擴展階段

版本

LEPTOSKOP 2042（訂貨號：2042.001）

設備擴展階段

• 模塊“統計"（訂貨號：2911.001）

• 模塊“統計和數據存儲器"（訂貨號：2911.002）

標準套餐

• Fe Basic Package（訂貨號：2042.901）

• NFe 基本包（訂貨號：2042.902）

• Fe/NFE 基本包（訂貨號：2042.904）

統計包

• 統計包 Fe（訂貨號：2042.911）

• 統計包 NFe（訂貨號：2042.912）

• Fe/NFe 組合統計包（訂貨號：2042.914）

數據包

• 數據包 Fe（訂貨號：2042.921）

• 數據包 NFe（訂貨號：2042.922）

• Fe/NFe 組合數據包（訂貨號：2042.924）

LEPTOSKOP 2042 裝在堅固的保護殼中