蘇州市新杉本電子科技有限公司/ 日本大冢電子OTSUKA 蘇州新杉本直銷/陳小姐
特 長
0nmからの低（殘留）リタデーション測定が可能
光軸検出と同時にリタデーション(Re.)の高速測定が可能
（速相當0.1秒以下での処理が可能）駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現
設定する測定項目が少なく、測定が簡単
測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップ
Rth測定、角測定が可能
（オプションの自動回転傾斜治具が必要です引張試験機と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能
(このシステムは特注対応となります。）
特 長
リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）
主軸方位角（θ[deg.]）
楕円率（ε）?方位角（γ）
三次元屈折率（NxNyNz）
特 長
位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機能性フィルム
樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの（ガラスにひずみ、歪みなど）
特 點
? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于世界*快速的0.1秒以下來處理）
? 無驅動部，重復再現性高
? 設置的測量項目少，測量簡單
? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
? Rth測量、角測量
（需要option的自動旋轉傾斜治具
? 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統屬特注。）
測量項目
? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
? 主軸方位角（θ[deg.]）
? 橢圓率（ε）?方位角（γ）
? 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）
原 理
? 什么是RE-200
? RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩定的性能。
仕 樣
型號 | RE series |
|---|---|
樣品尺寸 | *小10×10mm ～*大100×100mm |
測量波長 | 550nm （標準仕樣）※1 |
相位差測量范圍 | 約0nm ～約1μm |
軸檢出重復精度 | 0.05°（at 3σ） ※2 |
檢出器 | 偏光計測模塊 |
測量光斑直徑 | 2.2mm×2.2mm |
光源 | 100W 鹵素燈或 LED光源 |
本體?重量 | 300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg |
Option
? Rth測量、角測量※治具本體（旋轉：180°, 傾斜：±50°）
? 動旋轉傾斜治具
| 仟漁 |
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