鍍層測厚儀是北京時代山峰科技新研發的新產品,是德國EPK/易高等同類產品的替代產品,與之前涂層測厚儀相比有以下主要優點:
1. 測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;
2. 精度高 :本公司產品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上能達到的產品,其精度遠高于時代等國內同類.比EPK等進口產品精度也高;
3. 穩定性:測量值的穩定性和使用穩定性優于進口產品;
4. 功能、數據、操作、顯示全部是中文測量方法
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
尊敬的客戶:
您好,我司是一支技術力量雄厚的高素質的開發群體,為廣大用戶提供高品質產品、完整的解決方案和上等的技術服務公司。主要產品有涂層測厚儀、硬度計等。
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