零頂空萃取器定量分析的原理是動態氣體萃取，逐步進行并在每個步驟中建立平衡條件。頂部空間中分析物的濃度降低，在一系列的提取步驟中，通過適當的分析物可以獲得。
零頂空六十年代初期引入，氣相色譜已成為一種重要的分析技術。在定量分析中，可以使用許多技術，例如內部或外部標準方法，可以使用這些方法在制備均勻的樣品時，才能制備出均勻的樣品情況，零頂空萃取方法，原則上是動態氣體提取逐步進行，通過適當的校準程序，零頂空萃取器進行逐步抽氣已經開發出來，這種系統已廣泛使用，靜態頂空分析的基礎是均衡，通過平衡分析，在熱力學之前中斷達到平衡。在萃取過程中，用新鮮的惰性氣體代替，去除一部分氣相，具有相同的效果，在這兩種情況下，普遍存在的均衡狀態受到干擾因此，必特別是用于測定固體樣品中的揮發性化合物，分析這種技術可以合理地應用。零頂空萃取與傳統的頂空分析相同，需要提供重復的頂空分析樣本。
用于固相萃取的吸附劑可大致分為三類，無機物氧化物，如硅膠和氧化鋁，低特異性吸附劑，例如基于二氧化硅的化學鍵合相和多孔聚合物，化合物和類特異性吸附劑，如免疫吸附劑，分子印跡聚合物和限制存取介質，對于擴大固相萃取范圍，提供不同的樣品基質，吸附劑選擇促進單一化合物。由于分析物濃度通常很低固相萃取，取樣裝置基本上決定了量，可以在正面分析條件下分離的分析物。固相萃取裝置短吸附劑，取決于取樣裝置的動力學特性及其保留特性。
強溶劑的體積，保留最少保留分析物，可用于基質簡化的漂洗溶劑的體積和組成，在最小溶劑體積中回收分析物，用于后續分析，其中分析物對吸附劑的保留率低。
零頂空萃取器所有采樣條件都可以通過一些簡單的吸附劑，用作液相色譜的柱填充材料以產生初始模擬數據，萃取技術有其自身的問題，吸附劑的表面化學性質，因此保留性能，不像溶劑的溶劑化性質那樣可重復。此外，固體吸附劑往往具有更高的吸附力可能干擾分析物測定的污染水平。
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