奧美加激光測徑儀的測量原理
奧美加激光測徑儀采用進口高速微型馬達（高掃描頻率）、軍-工-級制程激光器（高準直性）、*新的非球面光學系統(tǒng)設計與加工、優(yōu)化特定的邊緣檢測算法。測徑儀掃描頻率樶高可達2400Times/S(單軸)，能精準識別被測物邊緣，保證在一個測量周期內得到更多的被測物單個掃描值，高精度單周期精確數(shù)據采集能真實反應其尺寸變化和表面缺陷，能在很小的掃描間距內檢出產品表面的粒子、漆瘤、氣泡、砂眼等，當缺陷的尺寸大于*小檢測間距時能被準確檢出;尤其在扁平物測量方面，結合優(yōu)化邊緣算法，更能真實檢測出其寬度和厚度，這是傳統(tǒng)測量方法或低掃。
奧美加激光測徑儀的測量原理：從半導體激光器發(fā)出的激光光束被一個多面鏡和一個平面鏡反射。光束穿過一個準直F (θ)透鏡。掃描目標物后，光束通過接收器透鏡匯聚并轉換成一個與接收光強度成正比的電子信號，根據光束被目標物遮斷形成陰影的時間來計算目標物尺寸。采用32位DSP、32位MCU微處理器芯片，保證了數(shù)據的計算與輸出能力。專用的測量算法配合高精密硬件，可保證測徑儀長期使用后數(shù)據的穩(wěn)定住與準確性。
奧美加激光測徑儀的測量原理下的測量方法主要有：單軸測量、雙軸測量、四軸測量等，主要應用于直徑檢測、寬度檢測、厚度檢測、凹凸缺陷檢測、橢圓度檢測、跳動檢測。
