四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美A.S.T.M 標準而的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。該儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。
適用范圍：
1、覆蓋膜；導電分子膜，、低溫電熱膜；隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙；金屬化標簽、合金類箔膜；熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜；電涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試。
2、硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜。
3、EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜。
4、抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等。
四探針測試儀的能描述：
1、四探針單電測量方法；
2、液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償；
3、集成電路系統、恒流輸出；
4、選配：PC軟件行數據管理和處理；
5、提供中文或英文兩種語言操作界面選擇。
設備特點：
1、可以測量溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率；
2、軟件、觸摸屏、溫爐等集成于體，可以行可視化操作；
3、可實現純凈氣氛條件下的測量；同時保證探針在溫下不氧化；
4、采用labview軟件開發，操控性、兼容性好、方便升級；
5、可自動調節樣品測試電壓，探針和薄膜接觸閃絡現象；
6、控溫和測溫采用同個傳感器，保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度；
7、可配套使用Keithley2400或2600數字多用表。
