雙電測數字式四探針測試儀/雙電測四探針檢測儀 型號:DP-2263
概述
DP-2263型雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，對數據行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等分組成。
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤和數碼開關輸入；具有零位、滿度自校能；測試能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作成，也可脫PC機由四探針儀器面板上立操作成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。
詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、化程度、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
三、基本參數
3.1 測量范圍
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方 阻：5×10-4～1×106 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
電 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式決定)
直 徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
量程劃分及誤差等級
滿度顯示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
常規量程 | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | ||||
基本誤差 | ±2%FSB ±4LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±1.0%FSB ±4LSB | ||||
四探針探頭（選配其或加配）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調
3.6 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7 外形尺寸：
主機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（）
