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半導體導電型號鑒別儀 型號：DP-STZ-8

DP-STZ-8型半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型 “P”和 “N”的測量儀器,是采用溫差效應和整流效應兩種方法相結(jié)合綜合性的測量導電型號儀器,測量范圍廣硅材料電阻率從10-4~103Ω•cm,儀器采用靈敏度放大電路和判別電路，將材料上的微弱信號放大，并用 “P” “N”數(shù)碼直接顯示，儀器采用手持式四探然探頭，使用簡單，操作方便，且壽命長，適合半導體材料廠、器件廠和科研需要。

用作太陽能多晶材料分選時,采用整流法,對<0.1Ω-cm的材料具有聲光報警能,廣泛應用于太陽能電池的原材料篩選環(huán)節(jié),快速。

主要標：

1．  測量范圍：硅單晶材料電阻率10-4~103Ω•cm

   溫差法：10-4~10Ω•cm

   整流法：10~103Ω•cm，并對<0.1Ω•cm的材料具有聲光報警能。

2．  可測量材料：半導體硅棒和硅片，及硅碎顆粒。

    可測半導體材料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。

3．  顯示方式：P、N 燈顯示。

4．  測試探頭：手持式 探針間距3 mm         探針Φ1mm 速鋼

5．  電源：220V 50HZ 20W

6．    儀器尺寸：100×260×260