清潔度顯微鏡全自動系統是由思貝舒團隊根據顯微鏡市場的需求和對于顯微系統更深層次的理念開發并推出的，系統的成熟，細微的觀察，利用全自動性能可以更精確的了解到對象的分布、數量、大小等，為科學研發和生產領域增添了一種新的精準測試手段。
該系統為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統，該系統包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成；
將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物；
目前廣泛應用于醫院、科學研究所、航空、航天、航海、電力、汽車、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、制造等領域進行固體顆粒污染度檢測。
系統為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統，該系統包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成；
將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物；專用數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；
輸出分析的結果：直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點；
產品獲得現實NAS、ISO等國際標準方法的認可；
方法標準：
ISO 4407、JJS B9930、GB/T 20082、GJB 380.5A、GJB 380.8A、QJ 2724.4、QC/T 29105.4、JG/T 70、JB/T 9591.3、JB/T 5365.2、ISO16232 、DA19 、ISO4406等；
判定標準：
GB/T14039、ISO4406、SO11171、NAS1638、 MIL-P-28809、MILSTD-1246、DL/T432、GJB380、GJB420和DL/T1096等。
儀器性能：
測試范圍: 1-500μm
統放大倍數：40～l000X倍
分辨率：0.1μm
顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數字攝像頭(CCD)：300萬像素
標尺刻度：0.1μm
分析項目：粒度分布、長徑布、圓形度分布自動分割速度：< 1秒
分割成功率：> 93%
