溫度循環(huán)試驗標(biāo)準(zhǔn)gjb熱循環(huán)測試設(shè)備 溫度循環(huán)試驗標(biāo)準(zhǔn)gjb_熱循環(huán)試驗設(shè)備,隨著我國高新裝備技術(shù)的發(fā)展,對電子元器 件的可靠性要求越來越高,而作為可靠性技術(shù)中 的可靠性試驗越來越受到大家的重視,間歇壽命 試驗是電子元器件的可靠性試驗項目之一,該試 驗反復(fù)不斷通電和斷電,有規(guī)律的間斷地給器件 施加應(yīng)力來考察器件的可靠性。結(jié)合工作實際, 對間歇壽命試驗方法的理解介紹給大家,以供探 討。 |