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溫度/濕度氣候試驗箱客戶處實拍試驗箱圖片
在可靠性實驗中，濕度一般施加在高溫段，在對濕度誘發(fā)的故障機理分析的同時要考慮高溫及后期的低溫的綜合作用。在機械特性方面，濕氣侵入材料的表面進材料分解、長霉及形變等。如果和高溫同時作用，絕緣材料的吸濕加快，甚至會產(chǎn)生吸附、擴散及吸收現(xiàn)象和呼吸作用，使材料表面腫脹、變形、起泡、變粗，還會使活動部件摩擦增加甚至卡死；在電氣方面，由于潮濕，在溫度變化時容易產(chǎn)生凝霜現(xiàn)象，從而造成電氣短路。
潮濕引起的有機材料的表面劣化也會導致電性能的劣化，同時在高溫下潮濕還會導致接觸部件的觸點污染，使觸點接觸不良。濕度誘發(fā)的主要故障模式有：1 電氣短路；2 活動元器件卡死；3 電路板腐蝕；4 表層損壞； 5 絕緣材料性能降低等。
另外，對于其它類型的環(huán)境應力和所能激發(fā)的故障類型也有一定的對應關(guān)系。在產(chǎn)品可靠性試驗中施加綜合應力比施加單一應力更能有效地加法產(chǎn)品的缺陷，因為某一種環(huán)境因素對產(chǎn)品的影響會隨著另一種環(huán)境因素誘發(fā)下得到加強并導致失效。這就要求，在對具體產(chǎn)品進行RET時，必須深入分析各類型應力對產(chǎn)品各類型缺陷作用的機理，確定RET中各種應力的*綜合方式。
應用領(lǐng)域
環(huán)境模擬試驗箱在各行業(yè)，制藥業(yè)，生物學中的應用

執(zhí)行與滿足標準
1.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;
2.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;
3.GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;
4.GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件;
5.GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
6.GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
7.GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
8.GB/T 5170.18-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
9.GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則
10.GB/T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語
11.GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
（idt IEC 60068-2-1:1990）;
12.GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
（idt IEC 60068-2-2:1974）;
13.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗
(IEC 60068-2-78:2001,IDT);
14.GB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗。(idt IEC 60068-2-38:1974);
15.GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
(eqv IEC 60068-2-30:1980);
16.GB/T 2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法
17.GB/T 2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導則 (idt IEC 60068-3-1:1974);
18.GB/T 2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導則 (idt IEC 60068-3-4:2001);
19.GB/T 2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認 (idt IEC 60068-3-5:2001);
20.GB/T 2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認 (idt IEC 60068-3-6:2001);
21.GB/T 2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A和B（帶負載）用溫度試驗箱的測量