薄膜鈮酸鋰晶圓(LNOI)的生產(chǎn)制造技術(shù)與傳統(tǒng)SOI晶圓制造方法相同,大多基于"Smart-cut"技術(shù)實(shí)現(xiàn),該項(xiàng)技術(shù)于1998年申請(qǐng)【1】,到2018年截止,目前該項(xiàng)技術(shù)已經(jīng)不受保護(hù),可無(wú)償使用。
LNOI晶圓制備過(guò)程如下下圖所示,包括以下五個(gè)步驟:(1)離子注入;(2)襯底準(zhǔn)備;(3)薄膜鍵合;(4)退火及剝離;(5)CMP平坦化。
如下圖b所示,利用離子注入機(jī),從鈮酸鋰晶體上表面打入高能的He離子,特定能量的He離子進(jìn)入晶體后,受到LN晶體中原子和電子的阻撓,會(huì)逐漸減速并停留在特定深度位置,破壞該位置附近處的晶體結(jié)構(gòu),將LN晶體分成上下A/B兩層,而A區(qū)將會(huì)是我們需要制備LNOI所需要的薄膜。
第二步:襯底制備(鈮酸鋰晶圓LNOI制備技術(shù)無(wú)塵烘箱)
要做薄膜鈮酸鋰晶圓,肯定不能讓幾百nm的LN薄膜處于懸空狀態(tài),必須有底層支撐材料。常用的SOI晶圓,襯底都是一層厚度大于500um的硅晶圓,然后在其表面制備SiO2介質(zhì)層,最后將單晶硅薄膜鍵合在上表面,形成SOI晶圓。
對(duì)于LNOI晶圓一樣,常用的襯底有Si和LN這兩種材料,然后通過(guò)熱氧或PECVD沉積工藝制備SiO2介質(zhì)層,如果介質(zhì)層表面不平整,還需要化學(xué)機(jī)械研磨CMP工藝,使其上表面光滑平整,便于后續(xù)的鍵合工藝。
第三步:薄膜鍵合(鈮酸鋰晶圓LNOI制備技術(shù)無(wú)塵烘箱)
利用晶圓鍵合設(shè)備,將注入離子后的LN晶體反轉(zhuǎn)180度,鍵合到襯底上。對(duì)于晶圓級(jí)生產(chǎn)而言,襯底與LN兩者的鍵合表面都做了平整化處理,通常采用直接鍵合方式鍵合,中間不需要粘結(jié)劑材料。
而對(duì)于科學(xué)研究而言,還可以采用BCB(benzocyclobutene)作為中間層粘結(jié)劑材料,實(shí)現(xiàn)Die to Die的鍵合,采用BCB鍵合方式,對(duì)鍵合表面平整度要求較低,非常適合于科研實(shí)驗(yàn)中。但是BCB不具有長(zhǎng)期穩(wěn)定性,所以在晶圓生產(chǎn)中,通常不會(huì)采用BCB鍵合。
將兩種晶體表面貼合擠壓后,還需高溫退火及剝離工藝。兩種晶體表面貼合后,首先在特定溫度下維持一定時(shí)間,加強(qiáng)界面鍵合力,同時(shí)使得注入離子層氣泡化,使得A,B兩層薄膜逐漸分離開(kāi),最后用機(jī)械設(shè)備將兩者剝離開(kāi),然后再逐漸降低溫度至室溫,完成整個(gè)退火及剝離工藝。退火工藝作用:
(1)較高的溫度能夠使得鍵合界面的鍵合力增加,使得鍵合的薄膜更牢固。(2)較高的溫度能偶使得注入離子層氣泡化,使得A,B兩層薄膜逐漸分離開(kāi)。(3)高溫退火也會(huì)修復(fù)A層薄膜內(nèi)受離子注入損傷的晶體,使其恢復(fù)單晶材料特性。
經(jīng)過(guò)退火剝離后的LNOI晶圓,其表面是粗糙的,不平整的,需要進(jìn)一步做CMP平坦化處理,使得晶圓表面薄膜平整,降低表面粗糙度。