如上所述，氣相色譜是多組分分離和定量測定的有力手段，但是利用保留時間和純品對未知物進行定性確認，則不理想。這是因為:
①某些物質具有基本相同的保留時間；
②某些未知物缺少標準純品;
③一些無法預估的未知物根本不存在色譜定性確認的可能。有鑒于此在組分定性分析時經常采用質講、色譜一質譜聯用、紅外光譜、核磁共振波譜等手段和方法。SF6中痕址雜質分析即為典型一例。
質譜(MS)技術一般適用于單一組分的樣品，可以測定未知物質的分子量和分子式，確定未知組分的分子結構，還可以用于同位素豐度和化學動力學的研究。但是，對分析SF6這樣組分復雜的樣品很難得到理想的結果。近年來，多種儀器的聯用技術日益發展，在分析化學領域中其作用越來越重要。例如氣相色譜一質譜(GC-MS)聯用技術既發揮了色譜搜長分離復雜組分的特點，又利用了質譜判別結構的優點，因此柞常適于氣體中底量多組分分別定性鑒定的分析工作。日本、西德、法國、美國等國家都曾使用質講技術分析了SF6中的雜質。共中日本和美國等采用了GC-MS聯用技術，定性確認了SF6中多種雜?**櫸幀Ｎ夜萍脊ぷ髡咦云呤甏┛跡謖夥矯孀雋舜罅抗ぷ鰲Ｆ渲斜本┦欣投；た蒲а芯克捎肎C-MS聯用技術成功地實現了樣品中近二十種雜?**櫸值姆直鴝ㄐ浴?/span>
紅外分光光度(IR)對眾多純物質有特征很張的紅外光諾圖，對SF6中雜質的定性鑒定同樣具有一定的實用價值。法國工業電器實驗中心曾采用制備色譜對SF6樣品進行分離制備，然后分別由紅外光譜定性鑒定得出十余種雜?**櫸幀Ｎ韉碌難芯咳嗽幣餐ü焱夤夤舛燃樸肽Ｄ獾緇】獻爸彌苯恿擁姆椒ń?strong>SF6電弧分解產物的紅外分析，鑒定出SF2, S2F2, SF4等極易水解和氧化的活潑雜?**櫸幀５比唬焱夥止夤舛鵲姆椒ㄒ話閾枰隙嗟難罰蠖嗍榭魷灤朧孿染字票覆判小Ａ磽猓梅治齜椒ǚ治齷旌涎肥保髯櫸種淙菀紫嗷ジ扇哦跋旒稹?/span>
HDFJ-505 雙通道SF6分解產物檢測儀
采用F19核磁共振波譜法(NMMR)和付立葉變換紅外光游(Fourier Transform Infrared Spectrameter簡稱FT-IR)與模擬實驗裝聯機的分析方法。山于具有較高的靈敏度和掃描速度，因此在實驗中得到了SF4,SOF2等雜質含益隨實驗時間的變化情況。這無疑對研究電弧分解SF6所產生的雜質的機制和動力學具有重要的念義。但是，這兩種分析技術由于設備、操作技術復雜等原因，一般的研究單位難于做到。此外，F19核磁共振波講法(NMR)不能檢出非氟化物。這些都使該技術的推廣和應用受到一定的限制。
綜上所述，我們可以希出，其中采用GC-IN1S聯用枝術和GC制備-IR技術是分析SF6中雜?**櫸質潛冉嫌行Ш鴕子謔迪值畝ㄐ約ǖ姆椒ā?/span>
