如今的汽車行業運用各種裝飾性和功能性處理方法來改進汽車表面。經證實,使用傳統質量控制方法來檢驗多層樣品極其耗時,并伴有遺漏缺陷的風險。
新的檢驗手段將標靶面拋光系統和光學顯微鏡相結合,可實現的速度和可靠性。
Atotech Spain 公司實驗室經理F. Javier Ruiz Balbas 解說了他的系統使用體驗。Atotech 是為印刷電路板、高級包裝和半導體制造以及裝飾性和功能性飾面行業提供特殊化學品、設備、服務和解決方案的供應商之一。

Atotech Spain 公司實驗室經理F. Javier Ruiz Balbas
Ruiz Balbas:Atotech Spain 公司的質量控制流程主要是接收發現有缺陷的部件。這種缺陷通過金相制備(切割和拋光步驟) 進行序列分析,進而執行一系列檢驗。適當的樣品制備完成后,我們會繼續通過光學顯微技術和掃描電子顯微技術進行檢驗。我們的工作通常主要針對銅、鎳、鉻、鋅、金等金屬礦床生成的表面缺陷進行金相檢驗和測量。
Ruiz Balbas:在工作流程中,需要用短的時間從一個缺陷中獲取更多的信息,這是具有挑戰性的任務。

帶有鎳/鎳/鉻涂層的銅金屬。頂層鍍有半光亮鎳、光亮鎳和鉻涂層。樣品使用Leica EM TXP 制備。照片:Atotech Spain 公司提供
Ruiz Balbas:汽車行業所有領域都必須具有可持續性。這意味著如今我們操作的非CMR (致癌、誘導基因突變或毒害生殖系統) 產品具有更高的物化性質,同時也正在向減排發展??偠灾珹totech 受此推動十余年,將年營業額的10% 投入到研發和材料科學方面。因此,我們一直是汽車行業的表面處理合作伙伴。
Ruiz Balbas:我們的與眾不同之處在于,我們在金相技術領域擁有廣泛的經驗。
Ruiz Balbas:使用傳統方法進行樣品制備時,瞄準微小的缺陷和細節十分復雜。在許多情況下,樣品操作和制備等人為操作因素很容易為成品質量帶來變數,有時樣品還會在研磨-拋光過程中傾斜。傳統方法還需要為樣品操作提供消耗性的輔助支持材料,例如用樹脂包封樣品。
使用Leica EM TXP 標靶面拋光系統,我們能夠通過受控的步級順序改進材料切割-拋光過程。我們可以要在標靶細微結構上前移的微米數。受控的切割-拋光前進步級可在0.5 微米至100 微米之間選擇。在這之前,我們根本看不到缺陷型材橫截面的外觀和準確程度。
如今采用Leica EM TXP/DM2700 M 系統后,得益于其一體化體視顯微鏡,從橫截面開始,到制備過程,再到完成,都可以從不同的角度查看樣品。
Ruiz Balbas:該系統非常靈活,可在短時間內輕松獲得高質量結果。它能確保樣品制備方法的一致性和可重復性,進而實現準確無誤的樣品分析。