從SF6樣品的預分析中，我們可以總結如下特點:
(1)待測組分含址低，一般都在ppm級。而GC較易測定的組分例如空氣、CF4等含是相對較高。
(2)待測組分，也是引起重視的大部分組分的沸點大都比SF6沸點(一640C)高，一般柱一65°C一31°C之間(見表中數據)。
由于樣品中待測組分含***低和些質SF6的影響，直接進行GC-MS和IR分析很難得到理想的結果。為了消除這些障礙，有必要采用樣品預處理技術，達到分離濃縮樣品中雜?**櫸值哪康模允屎螱C-MS和IR的分析測定技術。此外，待測組分在GC柱中的餾出順序一般依沸點升高分別流出。因此，選擇適當溫度的冷阱，例如一64°C的冷阱，就可能會使低干一64°C的組分和高于一64°C的組分達到分離。使用適當的表面積較大的固體吸附劑吸附被測平分以達到濃縮的目的。
北京市勞動保護科學研究所采用一63°C的CHCI3一液氮冷阱和Porasil A多孔微球作為吸附劑，根據如圖示的流程，從而達到分離SF6質、濃縮樣品中雜?**櫸值哪康摹?/span>
一般地，濃縮1~2升SF6氣體樣品后，吸附在吸附劑上的待測組分成為主要組分，而SF6含量低于其它雜?**櫸趾貳Ｕ庋臀狦C-MS技術和IR進行定性分析準備了有利條件。 經過濃縮處理后的樣品，在 -85°C條件下進行熱脫附后，可直接進樣GC-MS或者GC制備一IR定性鑒定。
操作條件:
GC部分:DOS/S·G(60-80目)，不銹鋼填充柱，內徑3mm,柱長2mmCM一80用ov 柱，外徑5 mm,柱長1 m),柱溫40°C.汽化室溫度200°C,載氣(He)流盆20-30ml/min 柱前壓0.8kg/cm2.
MS部分:El源[M-80使用FI, CI, El源等]，電離電壓70eV，離子源溫度200°C，掃描時間3秒。
IR部分:5cm氣體池，參考氣體為空氣，掃描時間為6min.
(3)測定結果:
實驗分別檢出O2、N2,CO2,H2O,CF4,c2f6,c3f8,C4F10,C7F14,C2F5Cl,等17種含硫、含氟雜?**櫸?其中有些組分的分離不太好，有時得到二者的混合質譜)。以上主要檢出的質請艱!紅外光譜圖分別列于后而。
4.圖譜解析的討論
(1)經色譜柱分離出的各未知組分的質譜(EI)鑒定主要依據八峰值索引。場電離法(FI)一般只出現分子離子，據此確定未知化合物的分子量，其特具的優點是，當樣品中有多種分子:'(不同的化合物時，可以同時獲得各自的分子量而勿須嚴格的預分離。紅外光譜鑒定主要依據現有的純品(例如SO2F2等)及文獻講圖和標準講圖的對照來加以判定。其中幾種重要的雜質例如, SO2F2, SOF2,SO2,S2F10等的鑒定是綜合幾種定性手段的解析判斷結果。
(2)全氟烷烴是在SF6的合成和分解過程中產生的。在用El源測定時其裂片峰均為m/e69，而且其它裂片峰也多有重復。我們是在與標準圖譜對照的基礎上再參照色譜同系物的出峰前后順序大多以碳原子數的多寡為序的規律來加以判斷的。
(3)關于SF5OCF3的判斷:這一化合物在八蜂值索引中未列入。我們是根據所得質講的信息進行分析判定的，即:
可知，除m/c69外，11佘均為SF5O碎片在EI源上所產生的特征峰，而其第二碎片峰為m/e
