我們這篇文章來講述低溫箱做試驗時非散熱試驗樣本溫度突變的低溫試驗（簡稱：本試驗）本試驗用以確定經受溫度突變不致產生損傷作用的非散熱電工、電子產品（包括元件、設備及其他產品）低溫下貯存和使用的適應性。
試驗樣本應在低溫下放置足夠長時間達到溫度穩定，試驗持續時間通常從樣本達到溫度穩定是開始計算。
本試驗是將具有室溫的試驗樣本放入溫度為相關規范標準的符合嚴酷等級的低溫箱內，試驗樣本達到溫度穩定后，在該條件下暴露標準的持續時間，試驗樣本通常處于不工作狀態下。
低溫箱工作空間內，應能提供合適的溫度條件，可以用強迫空氣循環來保持溫度均勻，為了限制輻射影響，箱內璧各部分溫度與標準試驗溫度之差不應超過8%（按開爾文溫度計算），且試驗樣本不應受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。
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