雷達物位計用于低介電常數的測量
選擇物料性質為微DK時,一般用于介電常數小于1 . 4 ,這時介質表面的直接回波很弱,
或不能測量,而通過罐底反射的方法可以測得料位高度這時需要輸入以下參數中的兩個: 1 .空罐空高,空罐或空容器的空高值 。
2 .真實料高或待測物質的介電常數 ，這兩參數關聯 ，輸入其中之一即可 。以上參數
的精度直接影響測量結果的精度值注 ： “微DK”的選擇要慎重,大多測量是不合適
的,當 “微DK”選擇后,系統根據回波情況,判斷采用直接回波法或底部反射法來得
到測量結果 。
雷達物位計的阻尼時間
為抑制因液面波動起伏引起的測量顯示的變化跳動，可設定適當的顯示阻尼時間（范圍
在0~999秒），既保證有足夠的測量響應時間，又能使傳感器在延時后反映出變化的測
量值。一般設定幾秒的時間就足以使測量值穩定顯示。
當液晶顯示菜單號為1-3時 ，進入阻尼時間設置菜單,液晶顯示如下圖：
注：我們公司是物位儀表的生產廠家，雷達物位計是統稱，如果測量液位我們稱呼它為雷達液位計，如果測量固體我們稱它為雷達料位計，我們這款是液體固體通用的所以也可以叫做雷達物位計。如果想了解價格問題請致電我們銷售代表。同時我們公司也是超聲波探傷儀，磁粉探傷儀的主要生產廠家之一。
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