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宏展科技研發(fā)中心在研發(fā)設(shè)計高溫試驗箱時按照相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)進行設(shè)計與研發(fā)，為新型材料的測試實驗提供信賴的儀器設(shè)備，為客戶提供便捷的環(huán)境試驗箱，出貨前技術(shù)部門都會進行測試，達到合格的設(shè)備才會送到客戶手中！接下來給大家分享我們溫度循環(huán)試驗箱的測試流程。
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時；請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進行測試。
2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
4、升溫到+90°C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。
如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。
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