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    科研級三目正置金相顯微鏡WYJ-52XA配有大范圍移動的載物臺、柯拉落射照明系統、長距平場物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，可實現偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結構分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學顆粒的分析研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。總放大倍數：50X-800X

◆性能特點：
1、系統配置了大尺寸、大范圍移動載物臺，適合大工件的檢查。
2、采用大視野目鏡和長距平場物鏡，視場寬闊、平坦，成像清晰。 
3、采用“T”型防振結構設計，機械載物臺可慢速或快速移動試樣。
4、整機采用了防霉處理，保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。 
5、配置了偏光裝置并可選配暗場、微分干涉裝置，拓展了功能。
6、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
◆典型應用：
1、分析金屬、礦相內部結構組織。2、電子廠PCB板、芯片檢驗。
3、觀察材料表面的某些特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。

一、顯微鏡選購件：